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Filmetrics 光學薄膜測厚儀 F40 結合顯微鏡的薄膜測量系統 ，精密光譜測量系統讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內就可測量結果。

型號：F40

更新日期：2024-08-08

￥面議

Filmetrics 光學膜厚測量儀 依靠 F60 的光譜測量系統，可以很簡單快速地獲得薄膜的厚度分布圖。 采用 r-θ 極坐標移動平臺，可以非常快速的定位所需測試的點并測試厚度，測試非常快速，大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。 在約 45 秒的時間就可以掃描完標準 49 點分布圖

型號：F60-t

更新日期：2024-08-08

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