光學膜厚測量儀在測量的時候不會損傷


光學膜厚測量儀能夠避免前期的樣品處理,甚至是不需要樣品來進行試樣工作。傳統的測厚儀,在測量物件時,需要進行樣品的處理,使樣品與被測量物件一致,在測量時直接應用于樣品測量。而儀器的使用是直接應用于被測量物體。這樣的一個過程便為我們節省了不少的工作以及資源。利用光學膜厚測量儀,它可以避免了被測量物件的損壞。之所以普通傳統的測厚儀需要用到樣品來進行試測,就是因為在測量時,會對物體造成一定程度的表面損壞,為了避免物件的損壞,才會需要應用樣品。而光學膜厚測量儀,雖然直接應用于物件表面,但其它放射出來的光卻是一樣沒有實質的事物,在測量的時候并不會對物件造成什么樣的損傷。
光學膜厚測量儀特性:
a.測量膜厚和折射率,膜厚重復精度達1納米,折射率重復精度達0.01;
b.有配氣浮平臺便于移動大片玻璃;
c.質量控制,生產過程控制;
d.用于檢測太陽能AR減反膜玻璃生產線中整片玻璃的在線檢測或離線抽檢。
2.光學膜厚測量儀AR2 -ONLINE配套軟件特性:
a.菜單管理;
b.實時在線或離線抽檢監控和歷史數據界面;
c.輸出至SQL服務器;小型內置式SQL;
d.光學膜厚測量儀可根據客戶要求定制界面。
光學膜厚測量儀的使用并不僅僅有著以上這些優點,它的優點還是在于它的jīng確度比普通的測厚儀高。既使是很微小的物件,也可以利用這樣的一種儀器來測量它的厚度,而且還不用擔心物件會因此而受到破壞。于是,光學膜厚測量儀也就成了人們眼中的香勃勃。
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