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優(yōu)尼康攜filmetrics膜厚儀F40參加2019BCEIA展會

2019-11-05 [1842]

優(yōu)尼康攜filmetrics膜厚儀F40參加2019BCEIA展會

2019年10月23-26日,第十八屆北京分析測試學(xué)術(shù)報告會暨展覽會“BCEIA2019”將在北京·國家會議中心隆重開幕,展出國內(nèi)外500余家參展企業(yè)帶來的數(shù)千項新的產(chǎn)品和技術(shù),如儀器設(shè)備、試劑、軟件和分析測試服務(wù)等;

優(yōu)尼康也秉著相互交流促進(jìn)發(fā)展的目標(biāo)參加了這次展會。帶來展示的為美國Flmetrics公司的膜厚儀F40(見下圖)

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展會現(xiàn)場圖

進(jìn)口膜厚測量儀|profilm3d光學(xué)輪廓儀|filmetrics測厚儀|優(yōu)尼康|粗糙度測量儀|臺階儀|測厚儀|橢偏儀|膜厚儀

 

優(yōu)尼康科技有限公司提供的設(shè)備包括膜厚測量;表面輪廓測量;薄膜力學(xué)性能測量以及減震消磁系統(tǒng)等多個領(lǐng)域,本次參展由于展位空間限制,未能帶更多的實物展品加入展出,實在遺憾。

 

在4天的參展時間內(nèi),優(yōu)尼康和很多用戶和經(jīng)銷商進(jìn)行了成功的交流,也向大家展示和介紹了我們的產(chǎn)品,下一屆BCEIA,我們會攜更豐富的產(chǎn)品和更好的服務(wù)等待大家的到來。