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深圳半導體展覽會圓滿閉幕

2019-06-20 [1333]

為期三天的Semiexpo Shenzhen 2019深圳半導體展覽會已于2019年6月16日于深圳會展中心圓滿閉幕。

欣逢盛會,優尼康科技攜數臺產品赴會。其中Profilm3D光學輪廓儀,其低成本,高精度,超大的視場范圍面積,讓光學輪廓測量變得容易承受;Filmetrics F50反射式膜厚儀,簡單快速地獲得薄膜的厚度分布圖。非常快速的定位測試的點,快速測試厚度。Filmetrics F20薄膜厚度測量系統,其高,性價比高。

展會期間,作為薄膜厚度與表面輪廓測量,我司技術人員為蒞臨展位的客戶詳細解答各種疑難問題,與新老客戶進行了十分愉快的溝通與交流。贏得了新老客戶的*。

 

在未來的發展路上,我司會以赴,將我們經營理念“真誠,專注,信賴”服務于大家。

 

展會現場

膜厚測量儀|光學輪廓儀|Filmetrics|薄膜厚度測量儀|粗糙度測量

 

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優尼康盤總現場接受CCTV采訪

膜厚測量儀|光學輪廓儀|Filmetrics|薄膜厚度測量儀|粗糙度測量

 

參展人員合影留念

膜厚測量儀|光學輪廓儀|Filmetrics|薄膜厚度測量儀|粗糙度測量